仪器名称:X射线荧光光谱仪
规格型号:ARL PERFORM’X4200
分 类:射线/污染探测计
应用领域:材料科学 地球科学
所属单位:河北工程大学
产 地:美国
厂 商:赛默飞世尔科技
价 值:147万
购置日期:2016-11-09
使用状态:
共享模式: 内部共享
主要技术指标
1、测量方式:波长色散顺序扫描式 2、分析元素范围:O-U 3、含量范围:ppm到100%
主要功能/应用范围
用于金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、及钻屑等少量粉末样品中的主量,次量和痕量成分的定性、定量及无标样定量分析,广泛应用于地质、化学工业、材料、石油和煤炭、陶瓷和水泥、钢铁、有色金属、环境、高分子、农业和食品、药物等领域。
服务内容
用于金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、及钻屑等少量粉末样品中的主量,次量和痕量成分的定性、定量及无标样定量分析,
服务的典型成果
在本院服务
对外开放共享规定
广泛应用于地质、化学工业、材料、石油和煤炭、陶瓷和水泥、钢铁、有色金属、环境、高分子、农业和食品、药物等领域。
参考收费标准
1000元/样品。
仪器联系人: | 李彦恒 | 联系电话: | 0310-8578540 |
电子邮箱: | pingtaiban@hebeu.edu.cn | 传 真: |