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广角/小角X射线散射结构分析仪

仪器名称:广角/小角X射线散射结构分析仪

规格型号:Nano-inXider

分  类:X 射线衍射仪

应用领域:土木建筑工程  核科学技术  中医学与中药学  食品科学技术  药学  矿山工程技术  冶金工程技术  产品应用相关工程与技术  机械工程  信息与系统科学相关工程与技术  工程与技术科学基础学科  纺织科学技术  

所属单位:中科廊坊过程工程研究院

产  地:法国

厂  商:赛诺思公司

价  值:357.6万

购置日期:2017-12-05

使用状态:

共享模式: 外部共享

资源信息

主要技术指标

1.X-射线源:高通量微聚焦点光源;靶材:铜靶;最大输出功率:微聚焦光源30w;冷却方式:内循环自动水冷。 2.光路系统:单次全反射单片多层膜X射线聚焦镜;双狭缝无散射准直系统,保证不会产生杂散光;光路狭缝数量:2个。 3.样品台及附件:具有超大开放式水平样品台及样品空间。样品可在X/Z轴水平方向自动移动,移动范围:±20mm,精度:0.001mm,样品可在水平方向自动旋转,旋转角度180°。含附件高低温样品台,可以测试液体、固体样品。温度范围:-196℃-350℃,控温精度:±0.1℃。 4.散射真空管路:样品到探测器的距离无需调节,样品到小角探测器距离938mm,样品到广角探测器距离79mm;一次曝光,可同时在线实时、连续采集到小角、广角数据,同时得到2θ角度范围0.041°至60°二维数据图谱。最小散射角度q_min=0.029nm-1,最大散射角度q_max=40nm-1,样品可测Ultimate d_max=216nm。 5.SWAXS联用混合型半导体二维探测器。小角、广角双探测器均为二维探测器,可以同时在线实时、连续采集小角、广角二维数据图谱。对于高聚物样品可以计算长周期尺寸等,对于纳米粒子和液体样品可以计算颗粒的旋转半径、颗粒尺寸大小及分布、并可以分析颗粒形状(如球状、椭圆状、柱状)等。

主要功能/应用范围

用于分析高分子材料、胶体、乳液等材料纳米结构,适用于从液体到固体的各种形态,可以得到:纳米级粒度分布、形貌信息、结晶度、取向性、比表面积等信息,全面反映样品的纳米级结构信息;可以测量信号比较强的固体样品和信号微弱的液体样品。

服务内容

广角/小角XRD。

服务的典型成果

分子筛的XRD。

对外开放共享规定

工作日。

参考收费标准

100元/样。

联系信息
仪器联系人: 曾慧峰 联系电话: 15011460814
电子邮箱: hfzeng@ipe.ac.cn 传  真: 010-82544875
评价信息