主要技术指标

"（1）X-射线发生器功率为2.2 KW； （2）测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪?(双光学编码、直接轴上定位) （3）θ/θ设计，样品可以水平放置 （4）CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路?(带?Mirror) （5）高速探测器?D/teX-Ultra (能量分辨率20%以下) （6）测试角度范围：0.5~150°； （7）测试温度范围：室温—1500℃； （8）全自动控制。"

主要功能/应用范围

"1．物相定性（由物相检索软件通过对原始数据直接检索的方式实现）、有标定量分析功能。 2．点阵参数精密化，晶粒大小与晶胞畸变&结晶度分析 3．全谱拟合无标定量分析及结构精修。 4. 二维探测器得到的二维衍射信息（极图），可用于分析织构和应力。 5. 消除样品择优取向可用于药物物相分析。 6. 半导体膜等表面生长纳米薄膜材料的研究，高分辨薄膜反射率分析（可分析100nm左右的样品的膜厚），摇摆曲线。 7. 块体材料微区分析。 8. 倒易空间分析。" 材料科学，化工科学

服务内容

"1.?粉末样品的物相定性与定量分析? 2.?计算结晶化度、晶粒大小? 3.?确定晶系、晶粒大小与畸变? 4. Rietveld定量分析? 5.?薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度? "

服务的典型成果

暂无

对外开放共享规定

按照学校规定

参考收费标准

电话联系，相互协商