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单位
球差校正透射电子显微镜
仪器名称：球差校正透射电子显微镜
规格型号：JEM ARM300F
分 类：透射电镜
应用领域：材料科学
所属单位：河北工业大学
产 地：日本
厂 商：日本电子株式会社
价 值：1,818.05万
购置日期：2018-12-01
使用状态：
共享模式： 外部共享
资源信息
主要技术指标
TEM成像分辨率：300KV下≤70pm,80KV下≤100pm,40KV下≤220pm, STEM 成像分辨率：300KV下≤63pm,80KV下≤110pm,40KV≤272pm, 样品台：X：≥2mm,Y：≥2mm,Z ：≥±0.4mm, 倾斜：：X：≥±40°，Y：≥±40°
主要功能/应用范围
该电镜主要用于微纳米材料、催化剂、C纳米管、MOF、高分子材料等材料的形貌、晶格、缺陷或界面原子结构的表征；给出材料的化学成分信息、轻重原子分布、电子结构、缺陷及成键信息、三维重构分析、解晶体结构等。
服务内容
详情请联系设备负责人
服务的典型成果
暂无
对外开放共享规定
暂无
参考收费标准
2000元/小时
联系信息
| 仪器联系人： | 孟爽 | 联系电话： | 16600249465 |
| 电子邮箱： | 2021084@hebut.edu.cn | 传 真： |
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